「品質はタダではない」，JEITAが半導体加速試験のガイドラインを改訂

　日本電子情報技術産業協会（JEITA）は，「半導体デバイスの加速寿命試験運用ガイドライン」（EDR-4704）の改訂を進めている。これによって過剰な試験を是正して，品質と試験コストのバランスの適正化を狙う。
→ http://techon.nikkeibp.co.jp/article/NEWS/20070225/128125/

■【東京オートサロン07】コンパニオン写真蔵…その111、トーヨータイヤ まだまだ
http://response.jp/issue/2007/0226/article91603_1.html