2007-02-27から1日間の記事一覧

「品質はタダではない」,JEITAが半導体加速試験のガイドラインを改訂

日本電子情報技術産業協会(JEITA)は,「半導体デバイスの加速寿命試験運用ガイドライン」(EDR-4704)の改訂を進めている。これによって過剰な試験を是正して,品質と試験コストのバランスの適正化を狙う。 → http://techon.nikkeibp.co.jp/article/NEWS/2…

【LSI工場革新】トヨタから半導体業界へのメッセージ

トヨタ自動車が,同社の環境への取り組みと半導体業界へのメッセージについて,3月13日のNIKKEI MICRODEVICESセミナー「LSI工場革新〜環境対応が競争力の源泉に〜」の基調講演で明らかにする。 → http://techon.nikkeibp.co.jp/article/NEWS/20070226/128144/

「歩留まりにかかわるLSI設計情報を活用」,大日本印刷がマスク・コスト低減に一策

LSIメーカーが持つ歩留まりにかかわるチップ設計情報を,露光用マスク・メーカーがマスク製造のコスト低減や納期短縮に活用する。こうした体制作りに,マスク業界大手の大日本印刷が乗り出した。同社は,マスク欠陥の歩留まりに対する深刻度の情報をLSIメー…