アドバンテストとCadence、車載用半導体向けテスト技術を発表

　アドバンテストと米Cadence Design Systems社は2006年12月6日、車載用半導体向けに、故障率ゼロのテスト手法を提供するために提携を結んだことを発表した。この協業では、アドバンテストのATEプラットフォームを使用して、従来のPAT（analog part average testing）と呼ばれるアナログテスト手法と、見落としやすい小さな遅延故障をも検出する、Cadenceの「Encounter True-Time Test」の機能を組み合わせたもので、デジタル・デバイス向けに単一パスによる故障率ゼロのテスト・メソドロジを構築していく。

URL：http://www.advantest.co.jp/news/press-2006/20061206/index.shtml