DFT

●難しくなるLSIのテストに3種のDFT技術で挑む，ルネサスが講演

　LSIのテストが加速度的に難しくなっている。プロセス微細化で，（1）LSIに集積できる回路規模が増大していることや，(2）高抵抗断線や酸化膜欠陥，遅延欠陥などテストでチェックすべき項目が増えていることが，背景にある。しかも，LSIテスターへの投資は基本的に増えない。このため，DFT（design for testability）技術の適用が必須となる。ルネサス テクノロジーは，LSIのロジック・ブロックに対して，3種のDFT技術を使い分けていることなどを講演で明らかにした。
→ http://techon.nikkeibp.co.jp/article/NEWS/20050919/108670/