2013-04-06から1日間の記事一覧

【ソフト・エラー】 放射線などの影響により,半導体デバイスが一時的に動作不良を起こす現象 を「ソフト・エラー」と呼びます.半導体デバイス(特にSRAMなどのメモリ) は製造プロセスの微細化が進むほど,放射線の影響を受けやすくなります. 先月,NTTと…