「350億トランジスタのSoCはテスト可能か」で特別セッション

　先週，南フランスのニースで開かれた「DATE（Design, Automation & Test in Europe） 2007」の学会部門では，テストや故障診断関連で興味深い発表が多かった。例えば，テスト関係のHot Topicの一つとして「2020年の350億トランジスタの（チップ）はテスト可能か？」と題した特別セッションが開催された。
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