2006-07-10から1日間の記事一覧

■Magnachip、CMOSイメージセンサCSPを発表(7/7) < http://www.edresearch.co.jp/mtb/0607/025.html >■LSI Logic、DSP事業をVeriSiliconに売却(7/7) < http://www.edresearch.co.jp/mtb/0607/024.html >

STARCの「STARCAD-21」,ケイレックス経由で市場に

EDA

ケイレックス・テクノロジーは,半導体理工学研究センター(STARC)と業務提携を行い,STARCが開発したLSI設計メソドロジ「STARCAD-21」の販売と技術サポートを開始すると,発表した。ケイレックスは,主にLSI設計向けのEDAシステムの整備やサポートを手がけ…

ビット幅を宣言できるC++のデータ型を米Mentorが策定,WWWサイトで公開

EDA

米Mentor Graphics Corp.は,任意ビット幅の宣言ができるC++のデータ型「Algorithmic C」を発表した。同社は,自社のWWWサイトで今回のデータ型の公開を即日開始した。設計者や他のEDAベンダーに向けるとする。 → http://techon.nikkeibp.co.jp/article/NEWS…

STARC 下東氏、「セットメーカーや大学との連携強化が必要」

EDA

半導体理工学研究センター(STARC) 社長兼CEOの下東勝博氏は7月7日、STARCフォーラム2006において、「あすかIIで目指すもの」と題して講演した。あすかIIプロジェクトでSTARCは、日本の半導体産業・技術の国際競争力を向上するためセットメーカーや大学、公…

Mentor、検証とデバッグの高速化を実現するDRCツールを発表

EDA

米Mentor Graphicsは7月10日、DRC(Design Rule Check)ツール「Calibre nmDRC」を発表した。独自の「Hyperscaling」技術を採用し、データとオペレーションを並列処理することでMPUの処理効率を高め、優れたスケーラビリティと処理時間の短縮を実現。また、…

◎EDA/ソフトウエア関連、注目記事ピックアップ

EDA

1)Chartered社がDFMルールを構築、不良につながるパターンを高感度に検出 http://email.ednjapan.com/cgi-bin16/DM/y/e6Vk0Rehph0iwF0LF4L0AP2)低消費電力IC設計の仕様記述で、共通フォーマットを策定へ http://email.ednjapan.com/cgi-bin16/DM/y/e6Vk0Rehp…