半導体チップの静電気放電による不良を製造と設計の両面から低減

―― EOS/ESD Symposium 2009レポート
 2過電圧・過電流ストレス(EOS:Electrical Overstress)と静電気放電
(ESD:Electrostatic Discharge)が半導体バイスや電子システムなどに
与える影響を議論する国際学会「EOS/ESD Symposium 2009」が2009年8...
http://www.kumikomi.net/archives/2009/09/esd_eosesd_symposium_2009.php