■

KTD：Known Tested Die、電気的テストしたことを保証するダイ
KGD：Known Good Die、信頼性を含めて保証されたダイ

DFT ATE 融合 品質とコストの両立する テスト技術ロードマップに向けて
http://strj-jeita.elisasp.net/pdf_ws_2006nendo/9H_WS2006WG2Test_Nishimura.pdf
DFTとATEとの更なる融合
http://strj-jeita.elisasp.net/pdf_ws_2005nendo/9D_WS2005WG2Test_Nishimura.pdf