NXP、RFIDの性能と信頼性を高めるテストセンターを設立

NXP Semiconductorsは6月20日RFIDの展開と普及のためオーストリアGrazにRDC(Reference Design Centre)を設立したと発表した。製薬/製造/小売などの実環境と同等の環境下で、アプリケーションのテストを行うことが可能。また、“周波数不可知論的な”アプローチにより無線周波数の範囲を評価し、個々のアプリケーション環境のニーズに合わせた最適な周波数を提案するRFIDソリューションを開発する予定。詳細は http://www.nxp.com