とSTが車載用半導体共同設計を加速、90nmテスト・チップ製造

 < http://www.edresearch.co.jp/mtb/0706/148.html
●伊仏STと米Freescaleが共同開発の自動車用MCU,2008年Q1に出荷へ
 米Freescale Semiconductor Inc.と伊仏STMicroelectronics社は,共同で進めている自動車用半導体開発の進捗状況を発表した。両社は共同開発の開始について,2006年2月に発表している。最初の成果となる共同開発MCUのサンプル出荷を2008年第1四半期に始める予定である。このMCUは90nm世代のプロセスで作る。
http://techon.nikkeibp.co.jp/article/NEWS/20070622/134648/

ST/Freescale、車載用の90nm組み込みフラッシュを共同開発
伊仏STMicroelectronicsと米Freescale Semiconductorは6月22日、車載用半導体の共同設計を加速し、90nmプロセスによる組み込みフラッシュ技術に基づくテストチップを製造したと発表した。相互に整合性を取ったもので、2008年第1四半期には主要ユーザーに対してサンプル出荷を行う予定。詳細は http://www.freescale.com